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PIER-ELECTRONIC反射光度計(jì)的具體信息目前尚不明確,因?yàn)镻IER-ELECTRONIC主要以高頻電源、射頻發(fā)生器和等離子體設(shè)備聞名,而反射光度計(jì)通常屬于光學(xué)測量設(shè)備的范疇。如果PIERELECTRONIC確實(shí)提供反射光度計(jì)產(chǎn)品,可能是其產(chǎn)品線的一個(gè)擴(kuò)展或定制化解決方案。
反射光度計(jì)的工作原理
光源發(fā)出特定波長的光,照射到樣品表面。
樣品表面反射的光被探測器接收。
儀器通過分析反射光的強(qiáng)度和波長,計(jì)算出反射率、色度等參數(shù)。
數(shù)據(jù)通過軟件進(jìn)行處理和顯示。
反射光度計(jì)的關(guān)鍵參數(shù)
波長范圍:
通常覆蓋可見光范圍(380nm-780nm),部分設(shè)備可擴(kuò)展至紫外或紅外區(qū)域。
測量幾何:
包括鏡面反射(光澤度測量)和漫反射(顏色測量)等模式。
精度:
高精度設(shè)備可達(dá)到ΔE<0.1(色差單位)。
光源類型:
常用光源包括鹵素?zé)?、LED和氙燈。
探測器類型:
常用探測器包括光電二極管陣列和CCD傳感器。
反射光度計(jì)的應(yīng)用
材料科學(xué):
測量涂層、薄膜和金屬表面的反射特性。
印刷與包裝:
用于顏色質(zhì)量控制,確保印刷品的一致性。
紡織行業(yè):
測量織物的顏色和光澤度。
光學(xué)制造:
測試光學(xué)元件的反射率和透射率。
科研實(shí)驗(yàn):
用于光學(xué)特性研究和材料開發(fā)。
PIER-ELECTRONIC的反射光度計(jì)適用于控制固體,例如木材、礦物或顆粒。該產(chǎn)品用合適波長的光照射。光度計(jì)通過光譜評估待測材料反射的光:
傳送帶上的反射光度計(jì)
測量的原始數(shù)據(jù)被傳輸?shù)皆u估設(shè)備,在那里它被轉(zhuǎn)換為所需的值,例如水分、濃度或厚度。
PIER-ELECTRONIC的反射光度計(jì)用于各種工業(yè)領(lǐng)域的質(zhì)量控制。典型應(yīng)用包括:
沙子、谷物、木材、聚合物等的水分測量
粗鹽中某些礦物質(zhì)的濃度測量
涂層、薄膜和薄膜的厚度測量
糖白度的測定
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